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来自:德尔塔动态 发布时间:2017-04-05 15:52:06 阅读:

IEC62321

IEC62321是国际电工委员会(IEC)制定的关于电子电气产品中限用有害物质的测试方法。IEC 62321: 2008是一个独立的标准,其中包括介绍,测试方法,机械制样的概述,以及各种测试方法的条款。2013517日开始将IEC 62321: 2008拆分为一系列标准,同时导入新的测试方法或仪器。
 
最新更新系列标准
2017
●IEC 62321-7-2 
  
通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬
  
主要变化:采用有机溶剂从样品中提取六价铬 
●IEC 62321-8
  
通过GC-MSPy/TD-GC–MS测定聚合物中的邻苯二甲酸酯
  
主要变化:新增章节,针对7项邻苯提出两种测试方法


待发布系列标准
2017
●IEC 62321-4 am1 1.0
  
使用CV-AASCV-AFSICP-OESICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞
●IEC 62321-9 1.0
  
通过HPLC-MS测定高分子材料中的六溴环十二烷


2018
●IEC 62321-3-2 2.0
  
使用C-IC对聚合物和电子产品中的氟、溴、氯进行筛选
●IEC 62321-3-3 1.0
  
使用PY-GC-MSTD-GC-MS对聚合物中的多溴联苯、多溴二苯醚、特定邻苯二甲酸盐进行筛选
●IEC 62321-10 1.0
  
通过GC-MS测定聚合物和电子材料中的多环芳烃
  
: C-IC 燃烧离子色谱法 
  PY-GC-MS 
热裂解气相色谱质谱联用仪
  IAMS 
离子附着质谱法 
  TD-GC-MS 
热脱附气相色谱质谱联用仪 


已更新系列标准
2013
●IEC 62321-1 
  
简介和概述
  
主要变化:基本一致 
●IEC 62321-2 
  
样品的拆卸、拆解和机械拆分
  
主要变化:基本一致
●IEC 62321-3-1 
  
电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴的筛选 
  
主要变化:基本一致
●IEC 62321-3-2 
  
使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选
  
主要变化: 2013版增加了新的方法(C-IC
●IEC 62321-4 
  
使用CV-AASCV-AFSICP-OESICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞
  
主要变化:2013版增加了新的方法(热解析金汞齐化系统)
●IEC 62321-5 
  
使用AASAFSICP-OESICP-MS测定聚合物和电子材料中的汞、镉、铅和铬,以及金属中的镉和铅
  
主要变化:2013版增加了总铬的测试要求及新的检测方法(AFS


2015
●IEC 62321-6 
  
使用GC-MSIAMSHPLC测定聚合物和电子材料中的多溴联苯和多溴二苯醚 
  
主要变化:2015版增加了新的检测方法(IAMS/HPLC
●IEC 62321-7-1 
  
通过比色法测定金属无色和有色防腐镀层中六价铬
  
主要变化:关于六价铬的前处理及上机测试部分未做改动,对结果的阴性阳性判定基准改为小于0.1µg/cm2阴性、大于0.13µg/cm2阳性、
0.1µg/cm2~0.13µg/cm2
不确定。


德尔塔提醒您,此次IEC62321,主要更新了六价铬的检测方法,并新发布了邻苯二甲酸酯的检测方法。邻苯二甲酸酯在材料中风险较高,企业需特别关注相关管控。我们将持续跟进相关标准更新情况,并提供技术咨询及以上项目的检测认证专业的一站式服务。欢迎您来德尔塔咨询及认证!


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